【特許：3次元計測の高精度化】距離測定装置及びその方法：橋本 岳他（計4名，1番目），日本国特許第4565171号, 2010
【特許：3次元計測の高精度化】量子化誤差を軽減する距離計測方法及び距離計測システム：橋本 岳（計1名），日本国特許第4332629号，2009
特許
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【特許：3次元計測の高精度化】距離測定装置及びその方法：橋本 岳他（計4名，1番目），日本国特許第4565171号, 2010
【特許：3次元計測の高精度化】量子化誤差を軽減する距離計測方法及び距離計測システム：橋本 岳（計1名），日本国特許第4332629号，2009