特許

【特許:3次元計測の高精度化】距離測定装置及びその方法:橋本 岳他(計4名,1番目),日本国特許第4565171号, 2010

【特許:3次元計測の高精度化】量子化誤差を軽減する距離計測方法及び距離計測システム:橋本 岳(計1名),日本国特許第4332629号,2009

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