特許

【特許：3次元計測の高精度化】位置計測システム及び位置計測方法：橋本　岳（計1名），日本国特許第5581612号，2009

【特許：3次元計測の高精度化】量子化誤差を軽減する距離計測方法及び距離計測システム：橋本　岳（計1名），日本国特許第4332629号，2004

【特許：3次元計測の高精度化】距離測定装置及びその方法：橋本　岳他（計3名，1番目），日本国特許第4565171号, 2000